特許情報  > Gセクション 物理学  > G01N:2010年


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超音波探傷方法及び装置

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超音波探傷方法及び装置

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【図1】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図1】


【図2】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図2】


【図3】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図3】


【図4】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図4】


【図5】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図5】


【図6】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図6】


【図7】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図7】


【図8】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図8】


【図9】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図9】


【図10】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図10】


【図11】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図11】


【図12】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図12】


【図13】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図13】


【図14】
超音波探傷方法及び装置 - 特開2010−122072【図14】