English特許情報 > Gセクション 物理学
G01B 長さ，厚さまたは同種の直線寸法の測定；角度の測定；面積の測定；表面または輪郭の不規則性の測定
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- 特開２００９−２６７３：干渉計のアライメント装置
- 特開２００９−２６７９：工具欠陥検査装置
- 特開２００９−２７０１：エッジ検出装置及びエッジ検出装置用ラインセセンサ
- 特開２００９−２７０６：計測方法及びパターン形成方法
- 特開２００９−２７１５：小動物の位置測定システム
- 特開２００９−２７２０：パターンの方向測定装置および方法
- 特開２００９−２７２５：非接触三次元形状測定機
- 特開２００９−２７２８：追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法
- 特開２００９−２７３４：三次元測定プローブ
- 特開２００９−２７６５：耐火物のプロファイル測定方法及び耐火物の厚み測定方法
- 特開２００９−２７７１：物品の形状測定方法及び測定装置
- 特開２００９−２７８０：画像処理システム用照明装置及び画像処理システム
- 特開２００９−２７８５：半導体装置の寸法測定装置及び寸法測定方法
- 特開２００９−２７８９：携帯型計測器及びこれを用いた計測方法
- 特開２００９−２７９８：計測装置および計測方法
- 特開２００９−２８００：表面形状測定装置及び異常検出方法
- 特開２００９−２８０９：孔壁測定装置
- 特開２００９−２８１４：自動車用開閉体の建付精度評価方法
- 特開２００９−２８２３：３次元形状測定システム、及び、３次元形状測定方法
- 特開２００９−２８２７：回転角度検出装置
- 特開２００９−２８２８：アクチュエータの位置検出装置
- 特開２００９−２８２９：形状測定方法および形状測定装置
- 特開２００９−２８３１：３次元形状測定システム、及び、３次元形状測定方法
- 特開２００９−２８５２：形状測定装置及び形状測定方法
- 特開２００９−２８６２：移動ステージ装置
- 特開２００９−２８８９：誤差補正方法、誤差補正装置、及び誤差補正プログラム
- 特開２００９−２９１２：発光する対象物の３次元プロフィールの計測方法および装置
- 特開２００９−２９２８：光学測定装置、及び基板保持装置
- 特開２００９−２９３１：計測ツールのキャリブレーションに使用する基板を形成する方法、キャリブレーション基板および計測ツールをキャリブレーションする方法
- 特開２００９−８４２１：形状測定装置
- 特開２００９−８４２９：測長器の管理装置及び管理方法
- 特開２００９−８４８３：被測定面の測定方法
- 特開２００９−８５２３：多関節型座標測定装置のパラメータ校正方法
- 特開２００９−８５３３：光学式測定システム
- 特開２００９−８５６９：円板状基板の内径測定装置、内径測定方法、円板状基板の製造方法および磁気ディスク製造方法
- 特開２００９−８５７７：オブジェクト認識装置及びオブジェクト認識用プログラム
- 特開２００９−８５７８：実装基板の検査装置および検査方法
- 特開２００９−８５９４：光学素子ユニット及び干渉計
- 特開２００９−８６４１：雄ねじ類の異常検出装置
- 特開２００９−８６４７：物体認識装置及び物体認識方法
- 特開２００９−８６４８：３次元距離測定装置及び脚車輪型ロボット
- 特開２００９−８６５３：電解質膜の寸法測定装置及び電解質膜の評価方法
- 特開２００９−８６６０：形状測定機構の異常検出方法及び形状測定機構
- 特開２００９−８６７７：ノズル面の表面粗さを使用したガスゲージの圧力感度の向上
- 特開２００９−１４３４６：ウェハの表面検査方法及びウェハ表面検査装置
- 特開２００９−１４３４９：バルブ品番又は継手品番選出治具
- 特開２００９−１４３６１：円板状基板の内径測定装置、内径測定方法、円板状基板の製造方法および磁気ディスク製造方法
- 特開２００９−１４３６２：円板状基板の内径測定装置、内径測定方法、円板状基板の製造方法および磁気ディスク製造方法
- 特開２００９−１４３８４：試料の表面形状の稜線位置検出装置及び稜線位置検出方法
- 特開２００９−１４３８８：形状検出方法及び形状検出装置
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