G01R 電気的変量の測定；磁気的変量の測定（2011年分）

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磁界プローバ（特開２０１１−２２３９）
【課題】均一磁界範囲に正確にプローブピンを設置することができ、ひいては、磁界印加装置からの磁界を磁性体デバイスのＸ，Ｙ，Ｚ方向に対して精度良く印加させることができ、測定精度が高い磁界プローバを提供する。【解決手段】本発明に係る磁界プローバ１Ａ（１）は、磁界印加手段２を有する磁界印加装置３と、プローブピン４を有するプローブカード６と、磁界印加手段の下側に配さ…
半導体装置の試験方法および半導体装置の試験用ボード（特開２０１１−２２５１）
【課題】通常モード動作試験（１６ビットでの動作試験）と、テストモード動作試験（４ビットのパラレル試験）とを、同一の試験用ボードを用いて行うことができる半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験用ボードを提供する。【解決手段】半導体装置５００Ａ〜５００Ｄは、データビット数を内部で圧縮し、テスト結果をｍ個（ｍ＝４）のデータ入出力端子ＤＱ［０：３］に出力する。半導…
スキャンテスト回路、その設計方法、およびプログラム（特開２０１１−２２６１）
【課題】スキャンシフトの動作速度をより高速化する。【解決手段】フリップフロップ２０１〜２０６は、スキャンパス用のシフトレジスタを構成する。シフトモード動作時において、フリップフロップ２０１、２０３、２０５のクロック端子には、クロック信号ＣＬＫが供給され、フリップフロップ２０２、２０６のクロック端子には、クロック信号ＣＬＫを反転クロック制御回路３０３によって…
コンタクトプローブ（特開２０１１−２２６７）
【課題】コンタクトピンとプロービング対象体とを安定して接触させる。【解決手段】スリーブ２と、プロービングポイントに接触させられる突起１４が先端部１１の端面に複数形成され、かつ後端側がスリーブ２内に摺動自在に挿入されたコンタクトピン４とを有するコンタクトプローブ１であって、コンタクトピン４の先端部１１は、プロービングポイント側が開口する円筒体で形成され、突起…
時系列データの解析システム及び時系列データの解析プログラム（特開２０１１−２２７２）
【課題】時系列データの解析において得られた基底変動が「最適解」であると判断することが合理的であると広く認められる手法と、データ長のオーダーで変動する時系列の基底変動を一意に決定することができる時系列データの解析システムを提供する。【解決手段】多数のラグに対応するGTPのパラメータと、MEM-PSDから得られる諸量とを、各三角項のパワーの総和とスペクトルピークのパワー…
補助道具（特開２０１１−２２７４）
【課題】計器に対する電線の接続作業などを行なう際に、その計器に隣接させて作業者が快適に作業できるように補助する補助道具を提供すること。【解決手段】外壁などに設置する電力量計１００に隣接させて作業補助をする計器カバー１であって、外壁に固定して電力量計を取り付けるとともに計器ケースを着脱可能なベース１１と、電力量計の本体部１０１の正面に対面して隣接する正面部４…
検査装置、ならびに、検査方法（特開２０１１−２２８１）
【課題】ＩＴＥ等の電子機器のＥＭＩ検査を効率良く行うのに好適な検査装置等を提供する。【解決手段】検査装置１００において、第１の検知部１０１は、測定対象の電子機器１２１に離間して配置され、電子機器１２１に起因する電磁場の変化を検知し、抽出部１０３は、所定の検知周波数ごとに、第１の検知部１０１により検知された電磁場の変化が所定の限界値を超えるか否かを判定し、当…
測定装置および燃料電池システム（特開２０１１−２２８３）
【課題】測定装置の大型化を抑制することができる測定装置、あるいは、計測深度を浅くしつつ、かつ、信号強度の低下を抑制することができる測定装置を提供すること。【解決手段】静磁場印加部１１３の前記一対の磁極１１３Ａ，１１３Ｂ間には、一対の磁極１１３Ａ，１１３Ｂにより形成される静磁場Ｈ０の方向が前記試料の表裏面に直交するように、前記試料５１１が配置される。また、平…
残留磁束測定装置、残留磁束測定方法及び遮断器の同期開閉制御装置（特開２０１１−２２９７）
【課題】中性点が非接地の変圧器の場合、遮断器により遮断された後の変圧器電圧に直流成分が重畳して残留することがあり、変圧器電圧に直流オフセット成分が残り、残留磁束を正確に算定できない。【解決手段】電力系統に設けられた一次側がΔ結線、二次側がＹ結線で中性点が非接地の三相変圧器において、三相変圧器の一次側の各相毎のサージアブゾーバに変流器を設けて変流器の検出値から…
ジッタ検出回路（特開２０１１−２２９８）
【課題】積分回路の差動出力から外乱に起因する低周波の同相ドリフトおよび差動ドリフトを除去し、安定かつ高精度のジッタ検出を可能にするジッタ検出回路を提供する。【解決手段】クロック信号を入力し、その立ち上がりまたは立ち下がりの少なくとも一方のタイミングを示すパルスを出力するゲーティング回路10とゲーティング回路の出力パルスの間隔を電圧レベルで出力する積分回路20と…
部分放電検査方法および回転電機（特開２０１１−２３１３）
【課題】回転電機がインバータ駆動に耐えられるかどうか正しく検査，診断できる部分放電検査方法を提供する。【解決手段】インパルス電圧を用いた回転電機の部分放電検査，診断において、高周波部分放電計測信号の信号強度と部分放電電荷量との相関関係を導出し、回転電機の部分放電劣化が懸念される電荷量に対応する高周波部分放電計測信号の信号強度である閾値を決定する。その後、回…
半導体試験装置（特開２０１１−２３２９）
【課題】ピンエレクトロニクス部からＤＵＴに至る経路のリレーを半導体リレーのみにして実装密度を高めてメンテナンス性の向上を図るとともにインピーダンス不整合による波形品位劣化を防止でき、校正時の電圧によるＤＵＴの破壊も防止できる半導体試験装置を提供すること。【解決手段】ファンクション試験モジュールと高精度直流試験モジュールを有するピンエレクトロニクス部からＤＵ…
半導体装置のテスト回路およびテスト方法（特開２０１１−２３４４）
【課題】半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。【解決手段】テスト回路は直流試験用の負荷制御回路（１１２ａ，１１２ｂ）、基準電圧生成回路（１１３）及び比較回路（１１４ａ，１１４ｂ）、または定電圧回路（２１４ａ，２１４ｂ）、電流−電圧変換回路（２１５ａ，２１５ｂ）、基準電…
磁気センサおよび電流測定装置（特開２０１１−２３４８）
【課題】周波数特性の向上を図りつつ製造コストを低減し得る磁気センサを提供する。【解決手段】磁性コアの周囲に導線１００を巻回して略弧状に形成された一対の有芯コイル１２と、導線１００を巻回して空芯形に形成されると共に各有芯コイル１２に沿ってそれぞれ配設された一対の空芯コイル１３とを備えて、各有芯コイル１２における各々の一端部６１同士および各々の他端部６２同士を…
複数組電池の電圧測定装置（特開２０１１−２３５０）
【課題】電圧測定用ＩＣに故障が発生した場合には、確実にこれを検出することが可能な複数組電池の電圧測定装置を提供する。【解決手段】各電圧測定用ＩＣに、参照電圧Ｖrefを出力する参照電圧出力電源２８を設け、自己診断を実施する際にはＡ／Ｄ変換器２６により参照電圧Ｖrefをディジタル化し、メインマイコン３３に送信する。メインマイコン３３では、２つの電圧測定用ＩＣより送信…
電力量計（特開２０１１−２３６２）
【課題】意図的に確認しようとはしないユーザに対しても、積算電力量が目標積算電力量を超過する恐れがあればその旨を任意の時点で伝えることができること。【解決手段】電力量計１は、所定期間内に負荷に供給される積算電力量を求める積算手段２１と積算電力量を表示する電力量表示器１０とを備える。また、電力量計１は、日時を計時する計時手段たる時計部１８と推定手段２３と算出手…
電力監視システム（特開２０１１−２３６３）
【課題】負荷の積算電力量の履歴を長期間記憶することができるとともに、１月単位の負荷の積算電力量の履歴を優先して長期間記憶することのできる電力監視システムを提供する。【解決手段】電力計測装置１は、計測手段で計測された瞬時電圧値及び瞬時電流値を用いて規定期間に負荷５に供給された積算電力量を求める演算部１０で求めた積算電力量と計時部１２で計時した現在の日付及び時…
電力監視システム（特開２０１１−２３６４）
【課題】電力計測ユニットの誤動作を抑制する。【解決手段】電力計測ユニット１の電流検出手段（電流トランスＣＴ１，ＣＴ２）以外の手段を収納したハウジング１７を分電盤（住宅盤２００）の外に設置している。故に、高温度や電磁波ノイズの影響による電力計測ユニット１（特に演算部１０や制御部１１，通信部１４など）の誤動作を抑制することができる。
電力監視システム（特開２０１１−２３６５）
【課題】利用者の節電に対する意識の向上を図る。【解決手段】親機２では、電力計測ユニット１の記憶部１３に記憶されている計測値並びに当該計測値の計測時刻とに基づいて所定期間内の積算電力量に対する電気料金を親機演算部２１で演算し、親機演算部２１で演算した前記電気料金を表示器２５で表示する。故に、電力計測ユニット１で計測される電力量を表示する場合と比較して利用者の…
半導体装置及び半導体装置の試験方法（特開２０１１−２３７７）
【課題】端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。【解決手段】入力端子（１２２）と、上記入力端子における入力インピーダンスを規定する終端回路（１２１）と、入力回路の出力信号を上記クロック信号に同期して取り込むレジスタ（１１３）とを設ける。パターン生成部（１０９）と、上記レジスタの出力信号を期待値と比較するパターンチ…
警告システム（特開２０１１−２３８４）
【課題】従来の警告装置では電力使用者又は電力使用の管理者のうち一方の判断基準に基づいて電力使用に関する警告又は電気機器のＯＦＦ制御を行っていたため、電力使用者と電力使用の管理者の両者のニーズを満たすことが難しかった。【解決手段】本実施例の警告システムにおいては、各警告装置に対してセンター装置の制御により警告に関する第一基準値を設定することが可能であり、また…
電子部品の特性測定装置（特開２０１１−２３９１）
【課題】マルチ測定方式において、放熱設備などを大型化することなく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる電子部品の特性測定装置を得る。【解決手段】ターンテーブル５０によって測定位置Ｃに搬送されてくる複数のチップ型コンデンサの外部電極に接触して絶縁抵抗を測定する測定器７５と、ターンテーブル５０や測定機７５などを制御するコントローラ８０を備えた特性測定装置…
半導体試験装置及び半導体試験方法（特開２０１１−２４０２）
【課題】オシロスコープやサンプリングスコープ等によるプロービングに依存することなく、被試験体の試験コストを抑制できるようにすると共に、半導体試験装置の製造コストを抑制できるようにする。【解決手段】プローブカード１２の接続を開放した状態で、プリエンファシス回路５から出力されるパルス信号を取得し、このパルス信号からプリエンファシス回路５の周波数特性を算出し、プ…
プローブカード（特開２０１１−２４０８）
【目的】本発明の目的は、実装時間を短縮することができ且つ高温テストに対応することができるプローブカードを提供する。【構成】プローブカードは、ＳＴ基板２００と、ＳＴ基板２００の下面に配設された複数のプローブユニット１００ａとを備えている。ＳＴ基板２００の下面には複数の接続用電極２１１が設けられている。プローブユニット１００ａは、プローブ基板１１０と、プロー…
半導体集積回路の試験装置及び試験方法、並びに半導体集積回路（特開２０１１−２４１１）
【課題】過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。【解決手段】半導体集積回路１０の試験装置１は、半導体集積回路１０の半導体素子に電圧を印加することによって半導体集積回路１０を試験するものであり、電圧印加部２、ブレークダウン検出部３及び試験電圧決定部４を備えている。電圧印加部は、半導体集積回路に設けられ…
絶縁抵抗測定装置及び絶縁抵抗測定方法（特開２０１１−２４１７）
【課題】簡易な検出回路によって直流回路の絶縁不良を高感度かつ安全に検出すること。【解決手段】この絶縁抵抗測定装置１は、直流電源回路２の対地絶縁抵抗を測定する装置であって、直列電源４の正極３Ａ及び負極３Ｂに接続するための接続端子６Ａ，６Ｂと、接続端子６Ａ，６Ｂと接地電位との間に接続され、接続端子６Ａ，６Ｂと接地電位との間の接続を切り換えるスイッチ素子７Ａ，７…
被測定物への測定プローブ接近装置（特開２０１１−２４４０）
【課題】起伏のある被測定物に測定プローブを高速で接近させ、かつ被測定物への物理的影響を最小限に抑える。【解決手段】測定プローブ先端部を覆いかつ測定プローブ先端部でスライド可能なプローブキャップと、そのプローブキャップが測定プローブから脱落するのを防ぎかつ被測定物に接触するまでは測定プローブ先端面とプローブキャップ内部が一定の隙間を保つように支持するプロー…
半導体装置（特開２０１１−７５０７）
【課題】外部ピン数を増加させることなく、各種試験を行うことが可能な半導体装置を提供すること。【解決手段】半導体装置１は、入力される信号の内容を任意に定義可能とされる。半導体装置１は、通常動作を行う通常モードと各種の試験を行うテストモードとを備える。半導体装置１は、データ入力端子Ｔ０ないしＴ３を備える。半導体装置１は、データ入力端子Ｔ０ないしＴ３に接続され、…
保磁力分布磁石の保磁力特定方法（特開２０１１−７５１２）
【課題】保磁力分布磁石を切り刻む等することなく、当該保磁力分布磁石内部の部位ごとの保磁力を精度よく特定することができ、もって精度のよい品質保証を実現することのできる保磁力分布磁石の保磁力特定方法を提供する。【解決手段】本発明の保磁力特定方法は、保磁力分布磁石の表面磁束密度を測定して減磁曲線を作成するステップ、減磁曲線から、平均保磁力、最低保磁力、角型性、を…
回路シミュレーション方法および回路シミュレーションプログラム（特開２０１１−７５２３）
【課題】電気回路を構成する部品が故障したときにも安全性が確保されているか否かを確認することのできる回路シミュレーションを提供することである。【解決手段】上記目的を達成するために、本実施形態の回路シミュレーション装置は、電気回路の結線を表す結線情報を取得する取得手段と、前記結線情報に基づき前記回路を構成する部品を選択する部品選択手段と、前記部品を抵抗値の異…
断線検出装置（特開２０１１−７５５４）
【課題】電路の断線を検出することができる断線検出装置を安価に提供する。【解決手段】制御回路が、スイッチ素子ＳＷｎをオン制御することによりコンデンサＣ１０ｎを放電してその両端電圧を０にした後にスイッチ素子ＳＷｎをオフ制御する。また、制御回路が、第１所定時間Ｔｃ１経過後、第２所定時間Ｔｃ２経過後のコンデンサＣ１０ｎの両端電圧Ｖ１、Ｖ２を測定して、Ｖ１／Ｖ２を求…
充電状態推定装置および充電状態推定方法（特開２０１１−７５６４）
【課題】蓄電装置の満充電容量を精度高く推定する充電状態推定装置および充電状態推定方法を提供する。【解決手段】ＰＭ−ＥＣＵは、Ｐｉｎ充電開始時に（Ｓ１００にてＹＥＳ）、充電前ＳＯＣ（１）を推定するステップ（Ｓ１０４）と、積算許可条件が成立した場合に（Ｓ１０４にてＹＥＳ，Ｓ１０６にてＹＥＳ）、充電電流の積算値を算出するステップ（Ｓ１０８）と、充電が完了した場合に…
半導体集積回路及び電子機器（特開２０１１−７５６６）
【課題】外部端子を削減しつつ、半導体集積回路の全経路の故障を検出する半導体集積回路及び電子機器を提供すること。【解決手段】第３ＦＦ回路１３は、第１ＦＦ回路１１のスキャンイン端子ＳＩから入力されるテストパターンに応じて、Ｌレベル又はＨレベルの第３保持データＤｍ３を出力端子Ｑから出力する。選択回路２３は、第３ＦＦ回路１３の出力端子Ｑから入力される第３保持データ…
磁気センサー（特開２０１１−７５６７）
【課題】微小な磁場を高感度で検出することが可能な磁気センサーを提供する。【解決手段】本発明の磁気センサー１０は、光ポンピング法を用いて磁場Ｂを測定する磁気センサーであって、最外郭電子が1つである原子又はイオンを囲み、磁場Ｂの中に配置されたセル２と、セル２に対してパルス状の第１の直線偏光ＥＩを入射させる光源１と、セル２を透過した第１の直線偏光ＥＩである第２の直…
磁気検出装置及び磁気検出装置のテスト方法（特開２０１１−７５６９）
【課題】特に、出力のオフセットが許容所定内であるか否かを簡単に検出することが出来る磁気検出装置及び磁気検出装置のテスト方法を提供することを目的とする。【解決手段】複数の磁気検出素子を接続して成るブリッジ回路には、一方の直列回路の入力端子Ｖｄｄ側に設けられた出力部ａ１とグランド端子ＧＮＤ側に設けられた出力部ａ２の間、及び他方の直列回路の入力端子Ｖｄｄ側に設…
テスト方法、テスト制御プログラム及び半導体装置（特開２０１１−７５８９）
【課題】テストパタン長を短縮できるテスト方法、テスト制御プログラム及び半導体装置を提供すること【解決手段】本発明にかかるテスト方法は、同一周波数のクロック信号で動作する複数のクロックドメインに対して、クロック供給回路４Ａ及び４Ｂからクロック信号を供給することによりテストを実行する論理回路のテスト方法である。複数のクロックドメインのそれぞれのテストパタン数を…
ＡＳＩＣ及び基板の接続検査方法（特開２０１１−７５９１）
【課題】ＡＳＩＣと実装基板間の接続検査を簡単に行う方法を提供する。【解決手段】集積回路の通常使用されている入出力端子に、並列にドライブ能力の小さいトライステート入出力バッファーを設け、テスト全体を制御するテスト制御回路を設ける。テスト時にはテスト用入力端子から信号を送りテスト制御回路を駆動し、テスト用に設けた入出力トライステート回路の出力側から信号を出力し…
波形解析装置（特開２０１１−７５９２）
【課題】カメラにより撮影される試験対象物の映像データと波形解析装置に取り込まれる試験対象物の映像データに関連する波形データを、時間的なずれを生じることなく同一の表示画面上に高精度に同期表示できる波形解析装置を提供すること。【解決手段】カメラにより撮影された試験対象物の映像データとその試験対象物のアナログ信号波形を取り込み、これら映像と波形を同期させて同一の…
電流センサ（特開２０１１−７５９６）
【課題】高い信頼性でコアを接地することにより、コアの電位に起因する磁電変換素子のノイズを低減し、高精度の電流測定を可能にする。【解決手段】本発明の実施形態により、ギャップが形成された環状のコアと、ギャップ内に収容される磁電変換素子が実装された回路基板とを備えた電流センサにおいて、コアの接地に使用されるコア接地部材が提供される。このコア接地部材は、接地線に接…
プローブカードを構成するプローブカード用基板およびプローブカード用積層体ならびにこのプローブカード用積層体を用いたプローブカード（特開２０１１−７５９７）
【課題】ウエハの所定位置を正確に検出するともに、高集積化が進んだＬＳＩチップ等の半導体素子上に配列された電極パッドを介して電気的特性を正確に検査できるプローブカードを構成するプローブカード用基板およびプローブカード用積層体、さらにこのプローブカード用積層体とプローブとを備えてなるプローブカードならびにこのプローブカードを用いた半導体ウエハ検査装置を提供する…
テスト支援装置（特開２０１１−７６０３）
【課題】分岐などを多く含んでいて処理の流れが複雑なテストプログラム全体の流れを容易に理解できるテスト支援装置を提供することにある。【解決手段】テストプログラムの仮想テストを行うように構成されたテスト支援装置において、前記テストプログラムの記述を解析するテストプログラム解析部と、このテストプログラム解析部の解析結果に基づき処理の流れについての判断を行うテスト…
電流センサ固定用クリップ、及び電流センサの固定構造（特開２０１１−７６０６）
【課題】電流センサをより良い位置で固定することが可能な部品を提供するとともに、この部品を用いての固定構造を提供する。【解決手段】先ず、電流センサ１２の貫通孔３２にバッテリーケーブル８を挿通し、次に、電流センサ１２を電流センサ固定部１４に固定するとともに、バッテリーケーブル８をテープ巻き１７によりケーブル固定部１３に固定し、最後に、バッテリー固定用ボルト９の…
断線検出装置（特開２０１１−７６１１）
【課題】断線時と正常時とで電圧検出手段に供給される電源電圧の変動することなく、安価な回路構成により確実に断線検出を行うことができる断線検出装置を提供する。【解決手段】互いに隣接する上位のブロックＢ２及び下位のブロックＢ１のうち上位のブロックＢ２を構成する単位セルＢＴ12〜ＢＴ22の両端電圧を検出する電圧検出ＩＣ１２のインピーダンスを小さくするためのスイッチ素子…
半導体装置の試験方法および試験装置（特開２０１１−７６１９）
【課題】試験時の電源変動を効率的に抑制することができる。【解決手段】錘付バイパスコンデンサ部１０は、ＩＣ２１１上に自重により載置される。コンデンサ１１は、電源側の端子１２とＧＮＤ側の端子１３，１４と接続される。コンデンサ１１は、ＩＣ２１１の電源線に流れる電源電流の高周波成分を端子１２から端子１３，１４へ排流する。端子１２，１３，１４は、錘付バイパスコンデン…
試験方法及び試験装置（特開２０１１−７６３０）
【課題】誤判定の低減された試験を行なうのに適した、回路の試験方法を提供する。【解決手段】試験方法は、複数の被試験回路に並列に電圧と試験信号とを供給して、単位試験を複数回繰り返す工程であって、１回の単位試験当たり、各被試験回路に入力される試験信号は、少なくとも第１の試験項目の試験信号を含み、第１の試験項目の試験信号の、各被試験回路に入力されるタイミングが、あ…
測定装置（特開２０１１−７６４６）
【課題】良否判定機能を備えた測定装置において、良否判定条件をより多様かつ簡易に設定可能とする。【解決手段】グラフ２０１上でボックスの描画操作（ｂ１、ｂ２）を受けつけてボックス４１１、４１２を描画/表示する（ｃ）。良否判定条件の設定完了を指示されたならば、その時点で表示されているボックスの各々を良否判定基準図形として設定する。デジタル信号処理部３の良否判定部３…
ＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームの検査装置（特開２０１１−７６４７）
【課題】プローバフレームのコンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とを同時に検査し、コンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とが共に良であるか、あるいは少なくとも何れか一つが不良であるかを同時に検査する。【解決手段】ＴＦＴ基板検査装置用プ…
磁気センサー（特開２０１１−７６５９）
【課題】精度よく微小磁場を測定することが可能な、構造の簡素化を図った磁気センサーを提供する。【解決手段】価電子が奇数個の原子又はイオンからなる第１ガスと、第１ガスに対して第１の円偏光を入射させるプローブ光源１１と、第１ガスを透過した第２の円偏光の光路上に配置された第２ガスと、第１ガス及び第２ガスに対して第１の円偏光及び第２の円偏光の光軸と交差する方向に交流…
磁気センサー（特開２０１１−７６６０）
【課題】精度よく微小磁場を測定することが可能な、構造の簡素化を図った磁気センサーを提供する。【解決手段】光ポンピング法を用いて磁場を測定する磁気センサー１であって、価電子が奇数個の原子又はイオンからなる第１ガスと、第１ガスに対して直線偏光を含む第１のプローブ光を入射させるプローブ光入射装置１１と、第１ガスを透過した第１のプローブ光である第２のプローブ光の光…
試験装置（特開２０１１−７６７１）
【課題】温度制御性の高い試験装置を提供する。【解決手段】試料載置ステージ１３に対向して配置されるプローブカード１７と、プローブカード１７の開口部１７ｈの下側に配置される複数のプローブ針１８と、複数のプローブ針１８の間の領域に配置される熱電対３１と、プローブカード１７の開口部１７ｈの下に熱電対３１の先端に接触して取り付けられる温度測定物３２と、プローブカード…