English特許情報 > Hセクション 電気
H01J 電子管または放電ランプ
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- 特開２００９−４１０８：プラズマディスプレイパネル
- 特開２００９−４１１２：荷電粒子線装置およびその真空立上げ方法
- 特開２００９−４１１４：検査方法および装置
- 特開２００９−４１２６：荷電粒子線加工装置
- 特開２００９−４１５０：プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法
- 特開２００９−４１５５：メタルハライドランプ
- 特開２００９−４１６１：試料表面上の異物除去方法及びこれに用いる荷電粒子装置
- 特開２００９−４１７２：プラズマディスプレイパネルの修復方法、修復装置及び製造方法
- 特開２００９−４２０３：超高圧水銀ランプ
- 特開２００９−４２０５：コイル巻装電極、電極マウント及び放電ランプの製造方法
- 特開２００９−４２２６：表示装置
- 特開２００９−４２３８：電極、電極組立体及びその製造方法
- 特開２００９−４２４２：放電ランプ用の電極構造
- 特開２００９−４２４５：透過電子顕微鏡の収差補正方法
- 特開２００９−４２９４：画像表示装置
- 特開２００９−４３０６：ＦＩＢ加工装置及び方法
- 特開２００９−４３１７：プラズマディスプレイパネル
- 特開２００９−４３２０：セラミックメタルハライドランプ
- 特開２００９−４３４４：プラズマディスプレイパネル
- 特開２００９−４３６６：対向電極アレイ板を有するパターン定義装置
- 特開２００９−４３９０：蛍光ランプ及び表示装置
- 特開２００９−９７０４：蛍光ランプ及びそれを用いた液晶表示装置
- 特開２００９−９７４２：プラズマディスプレイパネルの製造方法及びプラズマディスプレイパネル
- 特開２００９−９７５２：プラズマディスプレイパネル
- 特開２００９−９７６７：反射鏡付ランプ用ディスク、反射鏡付ランプ及び反射鏡付ランプの製造方法
- 特開２００９−９７７１：透過電子顕微鏡の試料移動方法。
- 特開２００９−９７７９：画像表示装置
- 特開２００９−９７８４：光源装置
- 特開２００９−９７８６：質量分析装置
- 特開２００９−９７９４：Ｘ線管装置
- 特開２００９−９８１１：ＭＡＬＤＩ質量分析用の試料ホルダおよび質量分析方法
- 特開２００９−９８１９：画像表示装置
- 特開２００９−９８２２：画像表示装置
- 特開２００９−９８４８：表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法
- 特開２００９−９８５０：表示装置
- 特開２００９−９８６３：イオントラップ、質量分析計、イオンモビリティ分析計
- 特開２００９−９８６７：荷電粒子線装置
- 特開２００９−９８７７：プラズマディスプレイ用部材の製造方法
- 特開２００９−９８７８：ディスプレイ装置
- 特開２００９−９８８２：荷電粒子線応用装置、及び試料検査方法
- 特開２００９−９８９３：放電ランプ用電極マウントおよび放電ランプ
- 特開２００９−９９０３：ビーム量測定装置及び半導体装置の製造方法
- 特開２００９−９９２１：ランプ
- 特開２００９−９９２２：発光装置及びこの発光装置を光源として使用する表示装置
- 特開２００９−９９２９：画像表示装置
- 特開２００９−９９４２：高圧縮電子銃用の一次元グリッド・メッシュ
- 特開２００９−９９４９：走査形電子顕微鏡
- 特開２００９−１６０６５：蛍光ランプ
- 特開２００９−１６０７３：真空装置およびそのベーキング処理方法
- 特開２００９−１６１０３：多価イオンビーム照射方法及び装置
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