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平成９年（１９９７）１月１０日 公開の特許一覧
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4898件中、401～450件を表示 - 特開平９−５２０２ ：真空漏れ試験装置
- 特開平９−５２０３ ：構造物内部の気泡検出装置
- 特開平９−５２０４ ：泡径調節型水中気泡発生装置
- 特開平９−５２０５：光ファイバの端面検査方法
- 特開平９−５２０６ ：光学装置の評価方法
- 特開平９−５２０７ ：異径コア光ファイバの融着接続部の評価方法
- 特開平９−５２０８ ：光線路識別方法
- 特開平９−５２０９ ：ホログラム検査装置及び方法
- 特開平９−５２１０ ：ツリー型およびスター型カプラーの特性評価装置
- 特開平９−５２１１ ：屈折力測定装置
- 特開平９−５２１２：光ファイバ増幅器評価方法および装置
- 特開平９−５２１３ ：光スイッチ
- 特開平９−５２１４ ：内燃機関シリンダブロックを流体静力学的に試験する装置
- 特開平９−５２１５ ：内燃機関制御装置
- 特開平９−５２１６ ：タイヤ騒音シミュレート方法及びその装置
- 特開平９−５２１７ ：耐熱低合金鋼の初期疲労損傷評価法
- 特開平９−５２１８ ：ミルクサンプリング装置
- 特開平９−５２１９ ：ガス検知管用定量ポンプ
- 特開平９−５２２０ ：円盤状試験体における疲労亀裂の導入方法
- 特開平９−５２２１ ：表面処理方法及びその装置
- 特開平９−５２２２：分析用粒状物体の分離装置
- 特開平９−５２２３ ：自動伸び検出方法
- 特開平９−５２２４ ：耐摩耗性評価試験装置の接触面圧補正方法及び装置
- 特開平９−５２２５ ：耐摩耗性評価試験装置におけるテストピースの昇温防止装置
- 特開平９−５２２６ ：土壌水分計
- 特開平９−５２２７ ：ウエーハ収納部材の清浄度測定・評価方法及びその装置
- 特開平９−５２２８ ：液中微粒子検出装置および処理装置
- 特開平９−５２２９ ：電子機器の加速寿命試験方法
- 特開平９−５２３０ ：樹脂対金属の摩擦係数測定装置
- 特開平９−５２３１ ：被覆鋼材の接着耐久性評価方法
- 特開平９−５２３２ ：多重反射セル及びその調整方法
- 特開平９−５２３３ ：ガスの分光分析装置
- 特開平９−５２３４ ：非破壊糖度測定装置
- 特開平９−５２３５ ：煙感知器の作動試験用エアゾル缶
- 特開平９−５２３６ ：生体組織を用いた情報処理装置
- 特開平９−５２３７ ：ラマンスペクトル測定装置及び測定方法
- 特開平９−５２３８ ：新規化学発光ラベル化剤と、カテコールアミン類の測定方法およびその装置
- 特開平９−５２３９ ：窒素酸化物濃度測定装置
- 特開平９−５２４０ ：被検体の比色測定と電気化学的測定を同時に行う方法および試験薬
- 特開平９−５２４１ ：化学発光分析試薬の安定化
- 特開平９−５２４２ ：カテコールアミン類測定方法
- 特開平９−５２４３ ：細胞内イオン濃度変化および膜電位変化同時測定方法
- 特開平９−５２４４ ：水濡れ検出装置および水濡れ表示機能を備えた湿度測定装置
- 特開平９−５２４５ ：画質判定方法
- 特開平９−５２４６ ：タイヤ成形機のゴム接合状態監視装置
- 特開平９−５２４７ ：刻印分離方法および光学部材検査装置
- 特開平９−５２４８ ：光学部材検査方法
- 特開平９−５２４９ ：光学部材検査装置
- 特開平９−５２５０ ：基板表面の異物検査方法及び検査装置
- 特開平９−５２５１ ：欠陥検査装置
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