ツイートする特許情報 > 1997年 > 平成９年（１９９７）１月１７日
スポンサード リンク
平成９年（１９９７）１月１７日 公開の特許一覧
スポンサード リンク
4699件中、401～450件を表示 - 特開平９−１４９０１ ：給水ノズルの円周振れ計測装置
- 特開平９−１４９０２ ：図形測定装置
- 特開平９−１４９０３ ：磁気式エンコーダ用磁性部材
- 特開平９−１４９０４ ：曲げ角度測定センサ
- 特開平９−１４９０５ ：電子部品の方向判別方法及び方向判別装置
- 特開平９−１４９０６ ：レゾルバを用いた回転角検出装置
- 特開平９−１４９０７ ：磁気式位置センサ
- 特開平９−１４９０８ ：磁気式角度センサ
- 特開平９−１４９０９ ：干渉計及びそれを取り付けたＸＹステージ装置
- 特開平９−１４９１０ ：光学的表面形状・段差測定器及び測定方法
- 特開平９−１４９１１ ：干渉計
- 特開平９−１４９１２ ：距離測定方法および距離測定装置
- 特開平９−１４９１３ ：レーザ測長機の芯出し調整方法
- 特開平９−１４９１４ ：レーザスペックルパターンによる移動量の測定装置におけるレーザ光の照射方法ならびにその装置
- 特開平９−１４９１５ ：格子干渉型変位検出装置
- 特開平９−１４９１６ ：格子干渉型変位検出装置
- 特開平９−１４９１７ ：座標入力装置
- 特開平９−１４９１８ ：ウェハのオリフラ検出装置
- 特開平９−１４９１９ ：端子挿入位置の計測方法
- 特開平９−１４９２０ ：連続アンローダーの相対位置計測方法及び装置
- 特開平９−１４９２１ ：非接触三次元測定装置
- 特開平９−１４９２２ ：缶巻締部の検査方法とその装置
- 特開平９−１４９２３ ：イメージセンサの測定領域表示装置
- 特開平９−１４９２４ ：才数計測器
- 特開平９−１４９２５ ：紫外・可視域光学系
- 特開平９−１４９２６ ：磁気ヘッド浮上量測定装置
- 特開平９−１４９２７：光ファイバー歪みセンサーおよびその製造方法並びに光ファイバー歪みセンサーを用いた構造物の歪み測定方法
- 特開平９−１４９２８ ：段差測定装置
- 特開平９−１４９２９ ：段差測定装置
- 特開平９−１４９３０ ：形状測定方法とその測定装置
- 特開平９−１４９３１ ：光学式変位測定装置
- 特開平９−１４９３２ ：管路測定装置及び管路測定方法
- 特開平９−１４９３３ ：コイル巻取形状測定方法及びその測定装置並びにコイル巻取形状監視装置
- 特開平９−１４９３４ ：外観検査装置
- 特開平９−１４９３５ ：３次元物体の測定装置
- 特開平９−１４９３６ ：形状計測装置
- 特開平９−１４９３７ ：歯車の歯面形状の非接触測定方法
- 特開平９−１４９３８ ：ウェハのオリフラ検出装置
- 特開平９−１４９３９ ：撮影対象物の形状測定システム
- 特開平９−１４９４０ ：コイル内径だれ検出方法及びその検出装置
- 特開平９−１４９４１ ：回転軸の回転角度検出装置
- 特開平９−１４９４２ ：円筒状表面の傷検査用撮影装置
- 特開平９−１４９４３ ：路面状況測定装置
- 特開平９−１４９４４ ：インサートワークの検査装置
- 特開平９−１４９４５ ：アブレーション深さ分布測定方法及びアブレーション深さ分布測定装置
- 特開平９−１４９４６ ：Ｘ線回折を利用した膜厚測定方法
- 特開平９−１４９４７ ：カーボン膜の膜厚測定方法
- 特開平９−１４９４８ ：音源位置標定方法
- 特開平９−１４９４９：超音波形検出装置用の遅延ラインおよびその使用方法
- 特開平９−１４９５０ ：狭隘部自動間隙計測器
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 次へ 94
スポンサード リンク
2011年
2010年
2009年
2008年
2007年
2006年
2005年
2004年
2003年
2002年
2001年
2000年
1999年
1998年
1997年
1996年
1995年
1994年
1993年