English特許情報 > 1998年 > 平成１０年（１９９８）１月１６日
平成１０年（１９９８）１月１６日 公開の特許一覧
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4798件中、301～350件を表示 - 特開平１０−９８０１ ：巻 尺
- 特開平１０−９８０２ ：測定機械の配置変更可能取付具とその変更方法
- 特開平１０−９８０３ ：内測測定器の基準器
- 特開平１０−９８０４ ：駆動シリンダ
- 特開平１０−９８０５ ：位置測定方法及び装置
- 特開平１０−９８０６ ：トロリ線摩耗検出方法
- 特開平１０−９８０７ ：非磁性裸撚線の精密計尺方法及び非磁性裸撚線の製造方法
- 特開平１０−９８０８ ：磁気センサ
- 特開平１０−９８０９ ：多波長光波干渉計における寸法誤差決定方法
- 特開平１０−９８１０ ：移動鏡駆動回路
- 特開平１０−９８１１ ：コヒーレント発散干渉法
- 特開平１０−９８１２ ：位置検出デバイスおよび位置検出装置
- 特開平１０−９８１３ ：光学的位置検出装置
- 特開平１０−９８１４ ：ホログラムの位置検査方法およびその装置
- 特開平１０−９８１５ ：物体位置検出装置
- 特開平１０−９８１６ ：位置検出装置
- 特開平１０−９８１７ ：レーザ変位計
- 特開平１０−９８１８ ：光情報検出デバイス
- 特開平１０−９８１９ ：距離計測装置
- 特開平１０−９８２０ ：情報記録ディスクの偏心測定方法及びその装置
- 特開平１０−９８２１ ：画像測定装置
- 特開平１０−９８２２ ：光学式測定における測定用治具
- 特開平１０−９８２３ ：光学式測定における被測定物載物台
- 特開平１０−９８２４ ：ＰＧＡ基板の外寸測定方法
- 特開平１０−９８２５ ：共焦点光学装置
- 特開平１０−９８２６ ：ＰＧＡ基板の外寸測定方法
- 特開平１０−９８２７ ：高さ判別装置および方法
- 特開平１０−９８２８ ：木材の長さ計測装置
- 特開平１０−９８２９ ：多層薄膜の膜厚測定方法と、その方法を用いた光学情報記録媒体の製造方法及び光学情報記録媒体の製造装置
- 特開平１０−９８３０ ：計測方法および装置ならびに半導体製造方法および装置
- 特開平１０−９８３１ ：磁気記録装置の浮上量測定装置
- 特開平１０−９８３２ ：干渉測定装置
- 特開平１０−９８３３ ：突き合わせ溶接部の形状検出方法
- 特開平１０−９８３４ ：３次元画像入力装置
- 特開平１０−９８３５ ：表面欠陥検査装置
- 特開平１０−９８３６ ：物体の表面性状、ガラスの表面の粗度およびガラス成形型の評価方法
- 特開平１０−９８３７ ：表面欠陥検査装置
- 特開平１０−９８３８ ：画像処理方法及び物体表面の欠陥検出方法
- 特開平１０−９８３９ ：表面欠陥検査装置
- 特開平１０−９８４０ ：表面欠陥検査装置
- 特開平１０−９８４１ ：表面欠陥検査装置
- 特開平１０−９８４２ ：レーザビームを利用した直線計の精度向上方法。
- 特開平１０−９８４３ ：サブミクロンの特定の物体の位置を突き止めるための方法および装置
- 特開平１０−９８４４ ：厚さ測定方法及び厚さ測定装置
- 特開平１０−９８４５ ：超音波信号発生装置
- 特開平１０−９８４６ ：人体検知装置
- 特開平１０−９８４７：人工または自然構造物の形状診断方法
- 特開平１０−９８４８ ：振幅抽出装置
- 特開平１０−９８４９ ：周波数抽出装置
- 特開平１０−９８５０ ：反転角度指示装置
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