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平成１０年（１９９８）４月１０日 公開の特許一覧
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4795件中、401～450件を表示 - 特開平１０−８９９０１：巻 尺
- 特開平１０−８９９０２ ：揺動量の倍率変換機構
- 特開平１０−８９９０３ ：ダイヤルゲージ自動検査装置
- 特開平１０−８９９０４ ：Ｖノッチウェハ位置決め装置
- 特開平１０−８９９０５ ：段付形状部品の寸法検査装置およびその寸法検査方法
- 特開平１０−８９９０６ ：端子かしめ部の寸法測定方法および寸法測定装置
- 特開平１０−８９９０７ ：内径測定器
- 特開平１０−８９９０８ ：主として測定器械で測定される部品の配置変更可能支持 要素
- 特開平１０−８９９０９ ：単分子膜面積測定装置および単分子膜面積測定方法
- 特開平１０−８９９１０ ：静電容量式変位測定装置
- 特開平１０−８９９１１ ：回転角検出部内蔵形電動機
- 特開平１０−８９９１２ ：干渉顕微鏡
- 特開平１０−８９９１３ ：表面位置検出装置
- 特開平１０−８９９１４ ：移動する機械部品の位置検知方法および装置
- 特開平１０−８９９１５ ：相対的位置決め機能を備えた視覚認識装置
- 特開平１０−８９９１６ ：面位置検出装置
- 特開平１０−８９９１７：エッジ検出器
- 特開平１０−８９９１８ ：アライメント装置
- 特開平１０−８９９１９ ：物体の認識方法およびその装置
- 特開平１０−８９９２０ ：位置検出方法およびそれを用いるマウント方法ならびに半導体集積回路装置の検査方法
- 特開平１０−８９９２１ ：アライメント測定誤差補正方法および半導体装置の製造方法
- 特開平１０−８９９２２ ：距離測定装置及び距離測定方法
- 特開平１０−８９９２３ ：溶接部の検査方法及び検査装置
- 特開平１０−８９９２４ ：楕円光による光学測定装置
- 特開平１０−８９９２５：車両形状測定装置
- 特開平１０−８９９２６ ：寸法測定装置
- 特開平１０−８９９２７ ：バンプ検査装置
- 特開平１０−８９９２８ ：野菜類の太さ測定装置および太さ階層別分類選別装置
- 特開平１０−８９９２９ ：位相分布測定方法及びそれを用いた位相シフト電子モアレ装置
- 特開平１０−８９９３０ ：焦点調節方法、およびそれを使用する形状測定器
- 特開平１０−８９９３１ ：パターン検査方法及びその装置並びに半導体ウエハの製造方法
- 特開平１０−８９９３２ ：測長回路
- 特開平１０−８９９３３ ：基板の検査方法及び基板検査装置及びＬＳＩ実装基板の製造方法
- 特開平１０−８９９３４ ：非球面折返し干渉装置
- 特開平１０−８９９３５ ：非球面干渉計測装置
- 特開平１０−８９９３６ ：ディスクの反り形状表示方法
- 特開平１０−８９９３７ ：球体の接合線検出装置及び検出方法
- 特開平１０−８９９３８ ：測定プレート用シート、測定プレート及び測定プレート用シートの貼付方法
- 特開平１０−８９９３９：表面形状測定方法及び装置
- 特開平１０−８９９４０ ：物体表面の微細形状計測装置
- 特開平１０−８９９４１ ：背圧式空気マイクロメータ
- 特開平１０−８９９４２ ：タービンスタッキングボルトの伸び量測定方法
- 特開平１０−８９９４３ ：物体位置決め方法及び装置
- 特開平１０−８９９４４ ：管状物の検査装置
- 特開平１０−８９９４５ ：外形寸法測定装置
- 特開平１０−８９９４６ ：座標測定装置
- 特開平１０−８９９４７ ：建設機械の駆動部材の位置検出装置
- 特開平１０−８９９４８ ：多軸掘削軸の捩じれ角度検出機構
- 特開平１０−８９９４９ ：ロールプロフィール計測装置
- 特開平１０−８９９５０ ：材料ひずみ計測装置及び方法
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