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平成１１年（１９９９）１月２９日 公開の特許一覧
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4799件中、1～50件を表示 - 特開平１１−２３２０１ ：曲 尺
- 特開平１１−２３２０２ ：等間隔測距定規
- 特開平１１−２３２０３ ：巻 尺
- 特開平１１−２３２０４ ：多機能立体物用角度計
- 特開平１１−２３２０５ ：位置測定装置及び位置測定装置の走査ユニットの組立方法
- 特開平１１−２３２０６ ：厚さ測寸機
- 特開平１１−２３２０７ ：回転変位検出器の組み付け構造
- 特開平１１−２３２０８ ：基準位置検出構造
- 特開平１１−２３２０９ ：走行位置センサ
- 特開平１１−２３２１０ ：直線型ポテンショメータ
- 特開平１１−２３２１１ ：傾き検出装置
- 特開平１１−２３２１２ ：回転スロットル位置センサ
- 特開平１１−２３２１３ ：回動角検出装置
- 特開平１１−２３２１４ ：回動角検出装置
- 特開平１１−２３２１５ ：光周波数領域反射測定法の検出信号処理装置
- 特開平１１−２３２１６ ：透明薄板測定用干渉計
- 特開平１１−２３２１７ ：孔位置の計測方法及び計測装置
- 特開平１１−２３２１８ ：走査型レーザ測距装置
- 特開平１１−２３２１９ ：共焦点光学系による変位計測装置
- 特開平１１−２３２２０ ：光学式距離測定装置の検査装置
- 特開平１１−２３２２１ ：位置検出装置
- 特開平１１−２３２２２ ：位置検出素子及び位置検出装置並びに位置入力装置
- 特開平１１−２３２２３ ：光ピックオフとしての不平衡型光ファイバ式マイケルソン干渉計
- 特開平１１−２３２２４ ：パターン座標測定方法および装置
- 特開平１１−２３２２５ ：検出装置及びそれを用いた露光装置
- 特開平１１−２３２２６ ：キャップ付き被覆電線の検査装置
- 特開平１１−２３２２７ ：寸法測定装置
- 特開平１１−２３２２８ ：寸法検査機
- 特開平１１−２３２２９ ：膜厚測定方法
- 特開平１１−２３２３０ ：膜厚測定装置
- 特開平１１−２３２３１ ：非接触厚み測定装置
- 特開平１１−２３２３２ ：透明体面間距離測定装置及び方法
- 特開平１１−２３２３３ ：赤外線膜厚計および赤外線膜厚測定法
- 特開平１１−２３２３４ ：ＢＧＡの半田ボールの高さ測定方法およびその装置
- 特開平１１−２３２３５ ：長く伸びた試験試料のパラメータを検出記録するための装置
- 特開平１１−２３２３６ ：基板間隔の測定装置及び基板間隔の測定方法
- 特開平１１−２３２３７ ：タイヤ内面形状測定装置
- 特開平１１−２３２３８ ：３次元の整形体を測定並びに監視するシステム
- 特開平１１−２３２３９ ：検査装置
- 特開平１１−２３２４０ ：部品認識方法、部品認識装置、及び部品装着装置
- 特開平１１−２３２４１ ：物体傾斜角計測方法及び装置並びに記憶媒体
- 特開平１１−２３２４２ ：基準位置検出構造
- 特開平１１−２３２４３ ：表面欠陥検査装置
- 特開平１１−２３２４４ ：ネジ穴の有効径計測方法および装置
- 特開平１１−２３２４５ ：水晶振動子法蒸着膜厚測定装置
- 特開平１１−２３２４６ ：煙突用肉厚検査装置
- 特開平１１−２３２４７ ：温度計保護管肉厚測定装置
- 特開平１１−２３２４８ ：突当の基準位置測定方法及びその装置
- 特開平１１−２３２４９ ：調尺電線製造装置の調尺寸法検査方法およびそれに用いられる測定具
- 特開平１１−２３２５０ ：物体長さ計測装置、物体監視装置、車長計測装置ならびに車両監視装置
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